X熒光光譜儀由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測系統構成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線(xiàn)），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。

X熒光光譜儀主要用途

X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線(xiàn)的強度，可以 測定元素含量。

近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應用得最多也最廣泛。大多數分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

優(yōu)點(diǎn)

a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，幾分鐘就可以測完樣品中的全?#30475;?#28204;元素。

b) X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)?#19981;?#26412;上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定 。

c) 非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

d) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素?#26448;?#36914;(jìn)行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。